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纳米材料分析

纳米粉末粒度分布测定

编辑:佚名 点击: 来源:本站原创 发布时间:2013年12月07日

粒度分布    纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法
                   GB/T 13221-2004

纳米微粒(超细微粒)的尺度介于原子,分子和块状物体之间,通常泛指尺度在几个至儿百纳米范围内的微小颗粒,属于微观粒子与宏观物体交界的过渡区域。测定纳米微粒的粒度分布,是研究和分析微粒有关物理变化的基础,也是改进超细微粒的制备工艺和开拓应用领域的重要环节。
  当一束极细的X 射线穿过存在着纳米尺寸的电子密度不均匀区的物质时,X 射线将在原光束方向附近的很小角域(一般散射角2θ<3°) 散开,其强度一般随2θ增大而减小,这个现象就称为小角X 射线散射(small angle X-ray scattering , SAXS)。小角X射线散射是发生的在原光束附近小角度范围内的电子相干散射,凡是存在纳米尺度的电子密度不均匀区的物质均会产生小角X 光散射现象,其散射强度分布与粉末的粒度及其分布密切相关,因此小角X射线散射是表征纳米、多孔材料结构的理想手段。
  SAXS可以解析散射体粒子体系或多孔体系的结构,如SAXS在煤、炭等多孔材料中已得到广泛的应用, 可用于测定孔径分布、比表面、分形维数等, 有助于了解其结构及性能。并且SAXS 是一种非破坏性的分析方法;对样品的适用范围宽, 不管是干态还是湿态都适用;不管是开孔还是闭孔, SAXS 都能检测到。目前, SAXS 已广泛应用于物理、化学、生物、材料等领域。
   

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