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X射线光电子能谱分析(XPS)
X射线光电子能谱分析(XPS)
编辑:佚名 点击: 来源:本站原创 发布时间:2013年10月30日
固体样品面积≤1.0cm2(<8*8mm), 高(厚)度≤1.0mm,厚度6mm,有平面。X光打样深度:1-10nm。粉末固体样品10-100mg;样品要求真空干燥,不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质;请注明样品保存条件(常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他);.XPS可以对H、He外的其它元素进行定性、半定量和化学态分析,检出限是原子百分含量在0.1~1%以上,不同元素检出限不同;一次可分析所有元素。
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