晶体学资料室

服务查询

半导体和微电子工业

高分辨X射线衍射法研究碳化硅单晶片中的多型结构

编辑：本站 点击： 来源:网上搜集 发布时间：2014年01月06日
 下载信息  [文件大小：245.93 KB 下载次数： 次]
点击下载文件:高分辨X射线衍射法研究碳化硅单晶片中的多型结构.pdf