问题荟萃2008(6)

钴酸锂的标准卡片有哪几种？而许多厂家用的是16—427标准卡片，没有考虑（009）这个衍射峰，为什么不用75—0532标准卡片呢？
    16—427是通过实验得出的，而75—0532是利用ICSD结构数据库中的结构数据计算得出的
    做钴酸锂实验时，出现的峰和75-0532一样，而和16-427是不是只差（009）衍射峰呢？如果是这样，那么就是16-427漏掉了这个峰，或者当时实验者收集数据时的角度不够高，没有达到这个峰的位置，这种情况是常有的

    做钴酸锂XRD衍射实验时，在X衍射仪上做出的衍射图片,第一个衍射峰特别高,其他的衍射峰特别低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位高手指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验，还是多晶膜等？如果是粉末，那可能就是择优取向了

    化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁，XRD与标准JCPDS相比衍射峰有规律向左偏移，这表达什么晶体结构的信息啊？
    可能的原因：
    如果各峰的偏移基本上是一个固定值，原因是2θ零位不正确；
    样品平面后仰；
    组成偏离化学式“MgNH4PO4·6H2O”，未知的偏离导致晶格变大了一些。

用Jade5软件可以进行XRD定量分析吗?
    XRD定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据（原理上应该用峰的面积数据），余下的工作便是些乘除比例的运算了，使用表格软件（如WPS Ofice的“WPS表格”、微软的Excel）完成甚为方便。因此，使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行XRD定量分析，当然，有Jade软件更为方便。

哪里有X射线衍射校正和定量分析用的标准物质（GBW(E) 130017）α-石英（α-SiO2）
    国家标准物质研究中心询购。http://www.nrccrm.org.cn

[结构分析计算方面的问题]
    请介绍一些介绍Rietveld方法的书籍。
    这方面的书籍很多，如：
    《粉末衍射法测定晶体结构》
    作者：梁敬魁编著　出版社：科学出版社
    出版时间：2003　丛编项：应用物理学丛书
    简介：本书系统全面论述了粉末衍射图谱的指标化，点阵常数的精确测量，粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法等在离子晶体结构分析中的应用。
    主题项：粉末衍射法－晶体结构 X射线衍射－晶体结构
    有没有关于精修的详细操作的指南？
    如果你想用Fullprof来精修结构，那么你可以看看本论坛：http://www.crystalstar.org/Article/ShowArticle.asp?ArticleID=81关