扫描电镜(SEM)
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扫描电镜(SEM)是介于透射电镜光学显微镜之间的一种微观形貌观

扫描电子显微镜扫描电子显微镜

察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,2-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。


项目介绍
所用仪器:场发射扫描电镜
依据标准号:JY/T 010-1996
依据标准号:JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
实验室信息3
联系电话:400-0064-028 / 010-62423361 / 010-62423562
Email:4000064028@labpku.com

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