X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试
服务详情

X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除HHe以外的几乎所有元素,可以提供有关固体表面和界面的化学信息(元素种类、相对含量及价态信息)。此外,通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息,主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。


送样要求:

1. 固体样品面积≤1.0cm2(<8*8mm),  高(厚)度≤1.0mm,厚度6mm,有平面。X光打样深度:1-10nm。

2. 粉末固体样品10-100mg

3. 样品要求真空干燥,不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质

4. 请注明样品保存条件(常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他)

5. XPS可以对H、He外的其它元素进行定性、半定量和化学态分析,检出限是原子百分含量在0.1-1%以上,不同元素检出限不同。

6. 一次可分析所有元素


项目介绍
所用仪器:X射线光电子能谱
服务价格:800元/样(表面分析) 850元/样(磁性粉末表面分析) 500元/小时(深度剖析)
依据标准号:JY/T 013-1996
依据标准号:JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则
实验室信息3
联系电话:400-0064-028 / 010-62423361 / 010-62423562
Email:wy@labpku.com 4000064028@labpku.com


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